System-Level Test In The AI Era: Validating Reliability At Scale

📋总体概括

Semiconductor Engineering撰文指出，在AI时代仅通过ATE（自动测试设备）已不能保证芯片在真实场景中可靠运行。AI训练与推理带来的持续高功率负载，将芯片的热与电学极限推向边缘，传统单品测试无法覆盖系统级应力。业界正转向系统级测试（SLT），在接近真实工作负载的条件下验证可靠性，以应对大规模部署中的现场失效风险与巨额运维成本。